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XAU系列國產(chǎn)X熒光測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。主要用于金屬鍍層厚度的檢測(cè)，廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍加工、隔離開關(guān)、材料表面處理、電子連接器等企業(yè)，多一次分析三層。

XAU-4C光譜分析儀x射線測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。

自動(dòng)化鍍層厚度測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于電子連接器企業(yè)、鋁合金鍍鋅、鍍鎳、鍍錫等企業(yè)、電鍍及電鍍加工企業(yè)、五金工具企業(yè)、印刷線路板企業(yè)、電子和半導(dǎo)體企業(yè)，完善的質(zhì)量體系和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，保證了用戶的使用和后期維護(hù)。

X光鍍層測(cè)厚儀，熒光膜厚儀具有更好的性能和便宜的價(jià)格，藝慈儀器是國產(chǎn)XRF的制造。在金屬鍍層檢測(cè)行業(yè)，*50%。

金電鍍鍍層厚度分析儀用于鍍層行業(yè)的一款金屬鍍層測(cè)厚儀器，電鍍厚度的把握關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本，（例如：鍍層厚度超過了標(biāo)準(zhǔn)厚度，尤其對(duì)貴金屬銀、金等，將會(huì)大大提高產(chǎn)品的成本，從而失去市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力），喬邦儀器生產(chǎn)的型配備移動(dòng)平臺(tái)，可全自動(dòng)軟件操作，并進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，檢測(cè)結(jié)果更加精準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)“傻瓜“式操作。